科技成果

一种加工微米/亚微米尺度块体试样的方法

发布日期：2008-03-06浏览量：

申请号：
 200810017630.4
专利类型：
 发明
发明人：
 孙军 陈威 孙巧艳 宋振亚 肖林 余倩 姚希
申请日期：
 20080306
代理人：

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