科技成果

基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法

发布日期：2007-10-16浏览量：

申请号：
 200710018884.3
专利类型：
 发明
发明人：
 高建民 陈富民 申清明 李成　刘军强
申请日期：
 20071016
代理人：

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