科技成果

半导体掺杂分布的精确测量方法

发布日期：2008-01-18浏览量：

申请号：
 200810017335.9
专利类型：
 发明
发明人：
 苗欣 邵志标 李宇海 傅懿斌
申请日期：
 20080118
代理人：

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