科技成果

利用安培力测定金属薄膜/基板界面疲劳性能的方法

发布日期：2005-09-30浏览量：

申请号：
 200510096108.6
专利类型：
 发明
发明人：
 孙军 刘刚 胡巍 宋忠孝 徐可为
申请日期：
 20050930
代理人：

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