科技成果

一种测试力/电耦合场下金属薄膜疲劳寿命的方法

发布日期：2005-10-10浏览量：

申请号：
 200510096133.4
专利类型：
 发明
发明人：
 孙军 刘刚 牛荣梅 宋忠孝 徐可为
申请日期：
 20051010
代理人：

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